nikon計量學(xué)X-射線ct計算機控制X線斷層掃描術(shù)XTH450The XT H 450系統(tǒng)提供必要的來源力量通過高密度零件擊穿和引起消散自由的CT容量與微米準(zhǔn)確性。系統(tǒng)對優(yōu)選X-射線的匯集，無需奪取不受歡迎的疏散X-射線的一臺平板或業(yè)主彎曲的線列陣(CLA)探測器是可利用的。
這臺線性探測器通過避免圖象污染和伴生的對比減少體會驚人的圖象鋒利和對比。450 kV和CLA對小到中金屬合金渦輪葉片和casted零件的檢查是理想的。
